Autenticação

Seminário de metrologia legal aborda lei de liberdade econômica

A Rede Metrológica do Estado de São Paulo – REMESP promoveu no último dia 3 de dezembro, o 3º Seminário de Metrologia Legal, este ano este ano na versão digital. O tema central do evento foi “Lei de liberdade econômica na metrologia legal e os impactos na indústria, comércio e laboratórios”.

O seminário teve como objetivo contribuir com a disseminação da cultura para a prática metrológica aplicada a instrumentos de controle legal e contou com a participação de grandes personalidades, como Periceles José Vieira Vianna, diretor de Metrologia Legal do Inmetro; Ricardo Gambaroni, superintendente do Instituto de Pesos e Medidas do Estado de São Paulo – Ipem; e Sérgio Ballerini, presidente do Sindicato Nacional dos Servidores do Inmetro – Asmetro-SN.

Entre os temas debatidos no evento, foram abordados os fundamentos da metrologia legal e desafios para o futuro, apresentado por Bruno Carvalho do Couto, chefe da Divisão de Gestão técnica da Dimel do Inmetro.

O seminário também contou com a participação do Felipe Batista Garcia Ferreira, da Dimel; Carlos Alberto Amarante, do Sibapem; Marcelo Luis Figueiredo Morais e Rodrigo Ozanan de Oliveira, ambos do Inmetro.

A consolidação da lei de liberdade econômica decretos 10139:2019, 10178:2019, 10229:2020 e 10411:2020, interação das plataformas de e-commerce com governo e perdas causadas pela fraude foram outros temas discutidos no evento.

Mais de 110 profissionais da área metrológica participaram desta edição do seminário, além de representantes dos permissionários, entidades de classe, indústrias, associações, sindicatos, associações comerciais, fabricantes de instrumentos, agentes de fiscalização, fabricantes de produtos certificados, organismos de certificação de produtos, entre outros.

Devido ao grande sucesso da terceira edição do Seminário de Metrologia Legal, a organização confirmou a realização do evento para o ano que vem.